Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume 3
Analysis methodologies
Specificaties
| ISBN/EAN | 9780750350204 |
| Auteur | Paul (National Research Council of Canada Hockett |
| Uitgever | Van Ditmar Boekenimport B.V. |
| Taal | Engels |
| Uitvoering | Gebonden in harde band |
| Pagina's | 226 |
| Lengte | |
| Breedte |